在剛結束的“第十屆中國聚焦離子束技術及學術研討”上，新一代的Therno Scientific™ Helios™ 5 DualBeam™  精彩亮相。賽默飛FIB產品經理Mikhail Dutka 為大家講述了Fully Automated In-Situ Sample Preparation with New Generation Helios 5 DualBeam(全新 Helios 5 雙束全自動原位樣品制備)。

現場精彩圖片

使用聚焦離子束制備薄 S/TEM 樣品仍被視為一項具有挑戰性的任務，需要高水平的專業知識、長時間的培訓時間和操作員的獨特技能。最新一代 Helios 5 DualBeam 與 AutoTEM 5 相結合，可實現從粗切到原位提取、減薄和最終低 kV 拋光的全自動過程，實現最高質量的薄片樣品制備過程。它設計可靠適用于各種最困難的材料。在完全自動化模式下，薄片樣品可以在45分鐘無人值守的情況下快速制備。

Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標準：最高的材料對比度，最快、最簡單、最精確的高質量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及最高質量的亞表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久經考驗的性能基礎上，新一代的 Helios 5 DualBeam 進行了改進優化，所有這些都旨在確保系統處于手動或自動工作流程的最佳運行狀態。這些改進包括：

一、更易于使用

Helios 5 是所有體驗級別用戶最容易使用的 DualBeam。操作員培訓可以從幾個月縮短到幾天，系統設計可幫助所有操作員在各種高級應用程序上實現一致、可重復的結果。

二、提高了生產率

Helios 5 和 AutoTEM 5 軟件的先進自動化功能，增強的穩健性和穩定性允許無人值守甚至夜間操作，顯著提高樣品制備通量。

三、改善時間和結果

Helios 5 DualBeam 現在包括 FLASH，這是一種調整圖像的新概念。對于傳統的顯微鏡，每次操作員需要獲取圖像時，必須通過迭代對中仔細調整顯微鏡。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的簡單手勢將激活 FLASH，將自動調整這些參數。自動調整可以顯著提高通量、數據質量并簡化高質量圖像的采集。

文章轉自：微信公眾號賽默飛材料與結構分析中國